TST采用获得美国专利技术的非接触MOS激光技术，使用泵入液氮冷却可达到最大 氩气和氧气等）Delivery系统,可进行温度范围-100~1200°C（多种温度范围可选）的变温测量。不但可对薄膜的应力、表面曲率 和翘曲进行精确的测量，而且还可二维应力Mapping成像统计分析，同时可精确测量应力、曲......

薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率，可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲 线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量。

HET依据范德堡法则，测量材料的电运输性能、主要参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或薄层材料均可测 量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高 校、研究所、半导体、金属、高热导有机新......

本仪器采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量，可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。

便 携 式 泽 贝 克 系 数 测 试 仪 P T M 是 一 款 测 试热 电 材 料S e e b e c k系 数 （ 常 温 ） 的 专 业 仪 器 。 该 仪器 可 用 于 快 速 测 试 薄 膜 、 块 体 、 纤 维 等 不 同 形 态 热电 材 料 的S e e b e c k系 ......

产品特点 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。 测温范围达到100K~700K。 采用动态法测量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。 采用四线法测量电阻率。 热电偶探针经过严格的筛选配对保证测试结果的准确和稳定。 软件操作简单，智能化......

Namicro-3LT采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品 的Seebeck系数和电阻率。 Namicro-3LT主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、 钨等金属，Te、BiTe、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、 2 3 FeNbSb、C......

嘉仪通科技研发的OPA是世界首台纳米级薄膜材料物性分析仪，填补了国 际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白！OPA不仅 可用于检测块体，还可检测低至1nm的薄膜材料。 OPA根据材料相变前后光学性质（反射光功率）有较大差异的特性检测材 料的相变温度，依据光干涉原理检测透光材料......